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Hong Kong109
Jared J. Hou1
Hong Kong Sauf Jared J. Hou" 108
Jared J. Hou Sauf Hong Kong" 0
Hong Kong Et Jared J. Hou 1
Hong Kong Ou Jared J. Hou 109
Corpus4194
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Ident.Authors (with country if any)Title
000096 Surface roughness induced electron mobility degradation in InAs nanowires
Wicri

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